二手 FEI Altura 835 #293754406 待售

FEI Altura 835是一種專用的掃描電子顯微鏡（SEM），旨在提供高分辨率的成像和分析能力。它包括一個彩色陰極發光（CL）探測器，使用戶能夠在可見光譜和紫外線光譜中成像和分析樣本。SEM還設有一個大型SEM室，便於從環境和工業來源收集各種樣品。此外，Altura 835有一個二次電子（SE）檢測器，與CL檢測器配合工作，提供高對比度成像。FEI Altura 835的動態孔徑超過70mm，可以讓大型樣品清晰清晰的圖像。此外，顯微鏡還裝有光頭峰地圖集電子槍，它提供比傳統槍更高的發射電流和更長的壽命。這一特性大大提高了顯微鏡的性能，使用戶對SEM的分析能力有了更多的控制。Altura 835的設計還包括快速樣品交換能力和確保高分辨率成像的高真空室。該腔室能夠達到8x10-7 mbar的底壓，還配備了用於腔室壓力控制的氣體噴射系統。此外,SEM附帶的軟件使用戶能夠自定義顯微鏡,使個人能夠根據自己的特定需求定制特征。FEI Altura 835還得益於現代技術創新，提高了成像能力。例如，使用場發射肖特基（Field Emission Schottky）源來減少充電效果並提高圖像的分辨率。顯微鏡還能夠自動進行圖像縫合，從而使用戶能夠在更大的視場上獲得大樣本的圖像。此外,SEM還包含用於過濾、模板和自動檢測的自動化例程。總之，Altura 835是一種先進的掃描電子顯微鏡，提供出色的分辨率和時間分辨率。其集成的CL探測器和電子槍能夠對大樣品進行高對比度成像，而它的許多自動化程序為用戶提供了無與倫比的成像和分析體驗。