二手 FEI Altura 835 #293761494 待售

FEI Altura 835是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像和分析能力。它是一個中級SEM,配置了高級成像功能,包括3軸掃描和數字圖像裁剪功能以及易於使用的圖形界面。SEM內部支持廣泛的二次電子 用於形態和成分分析的（SE）探測器,包括固態反向散射探測器 （SBD），用於元素分析的能量色散X射線（EDX）光譜儀，液氮冷卻超低損耗電子能量濾波器 （EELF）用於化學狀態成像和分析，以及廣泛的檢測器，用於組合次級、反向散射和X射線成像。Altura 835采用了先進的噪聲信號優化技術,能夠捕獲更多的成像細節,包括具有特殊低噪聲設計的舞臺信號放大器,以及各種濾波和信號增強技術,以優化信噪比。SEM還配備了高分辨率單色相機和各種x、y、z定位和縫合軟件，以自動化和簡化成像采集。FEI Altura 835的分析能力包括產生表面積、體積和粒度分布的自動樣本表面噪聲分析。此外，它還支持自動模式識別，以及像原子力顯微鏡（AFM）這樣的表面結構測量。利用EDX檢測器進行成分分析可用於表征納米級元素分布，多通道設置用於同時測量多個元素，光譜成像用於區域解析元素分布的映射。為了最大限度地提高用戶友好性和能力，Altura 835配備了自動化操作系統，簡化了樣品的準備和分析。這個自動化系統為測量過程提供了一個直觀的用戶界面，用戶可以在其中實時可視化、控制和監控顯微鏡。此外,系統還配備了全面的軟件工具和高級算法,可提供強大的數據管理、成像、數據可視化和分析功能。歸根結底,FEI Altura 835是一個通用的SEM平臺,具有先進的成像和分析功能,使研究人員能夠高精度地探索材料和納米結構並對其進行表征。