二手 FEI Altura 835 #9286978 待售

FEI Altura 835是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM），結合了先進的技術，在成像和分析標本表面時達到極致性能。它具有重型SEM柱和快速掃描階段，提供精確的標本定位、快速掃描速度和高分辨率成像。該設備提供了廣泛的分析能力，包括能夠分析有機和無機樣品中元素的能量色散X射線（EDX）探測器，提供了大量有關材料結構、組成和表面形態的信息。Altura 835還具有具有5軸偏轉器系統的高分辨率電子柱。這個單元的三個2軸掃描偏轉器提供非常快的掃描速度，同時保持優秀的源到樣聚焦和圖像質量。FEI Altura 835提供的高加速電壓使其適合進行反向散射電子成像等多種成像技術。機器的傾斜階段使用戶能夠獲取多個傾斜角度的圖像，以評估樣本的表面拓撲。顯微鏡還提供了一種低壓成像模式，能夠觀察非常脆弱的樣品，而不必擔心損壞或改變。Altura 835的高分辨率EDX工具提供了樣本的快速元素映射。這使得它對於有機和無機材料的化學分析非常出色。EDX資產由檢測器、EDX工作站和相關軟件組成,能夠快速輕松地進行元素映射。該探測器具有144個光譜通道的分辨率,用於無偏量化材料組成.FEI Altura 835為分析各種標本提供了廣泛的特色。它配有一個大的樣板室和工作區，使用戶能夠用舞臺馬達的hel監測三維標本的開發。它還包括磁性樣本處理、數字編碼器以及便於導航和定位多個標本的自動跟蹤等功能。Altura 835是那些在掃描電子顯微鏡中尋找高級成像和分析能力的人的終極工具。其尖端的設計和技術使其成為獲取高分辨率圖像和分析材料結構和構圖的理想工具。該模型的用戶友好界面使用戶設置和使用顯微鏡變得簡單明了，為用戶在調查樣品表面時提供了一流的性能。