二手 FEI / ASPEX Explorer #293814466 待售
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聚焦離子束（FIB）/分析掃描電子顯微鏡（ASEM）FEI/ASPEX Explorer是一種針對納米技術、材料科學、地質和生物學等領域的高分辨率成像和先進材料表征應用量身定制的尖端分析儀器。這種精密的設備結合了聚焦離子束（FIB）平臺和高性能掃描電子顯微鏡（SEM）的功能，為用戶提供了納米級的成像、微加工和分析工具的綜合套件。在FEI Explorer的核心是FIB柱，它產生一個聚焦的氙離子束，可以精確地定向到亞微米尺度的銑削、切割或沈積材料。FIB功能不僅可以制造納米結構和制備樣品進行進一步分析,而且還可以提取用於三維（3D）重建的橫截面,並對材料進行精確和控制的修改。而且，FIB系統允許以幾納米的空間分辨率成像，使得它非常適合研究亞細胞水平的特征或分析細微的細小粒子。作為FIB功能的補充,ASPEX Explorer單元中的分析掃描電子顯微鏡（ASEM）為高分辨率成像和元素分析提供了一個通用平臺。SEM組件利用聚焦電子束掃描樣品表面，收集二次電子、反向散射電子和X射線，其中包含有關樣品形態、組成和晶體結構的寶貴信息。Explorer配備了先進的探測器和成像模式，使用戶能夠以異常清晰的方式可視化樣品，並收集元素圖或線掃描，以識別和量化樣品中化學元素的分布。FEI/ASPEX Explorer中集成的FIB/ASEM機器為研究人員和工程師提供了一個強大的工具，用於廣泛的應用，包括故障分析、半導體器件表征、礦物學研究和生物研究。例如，在半導體分析中，FEI Explorer可用於檢測器件結構，定位缺陷，並進行亞微米精度的電路編輯，有助於半導體技術的進步和器件性能的提高。在材料科學中，該工具可用於研究合金、復合材料和薄膜的微觀結構，提供對它們的力學性能、相組成和晶界的洞察。而且，ASPEX Explorer在納米技術領域是無價的，在納米級對材料進行操作和表征的能力對於開發具有獨特特性的新型設備、傳感器和材料至關重要。憑借其先進的成像能力、精確的銑削和沈積功能以及化學分析的分析工具，Explorer使研究人員能夠制造納米級結構，研究其特性，並針對各種應用優化其性能。總之，FEI/ASPEX Explorer是一種集聚焦離子束和解析掃描電子顯微鏡功能於一體的最先進的分析儀器，為用戶提供納米級的先進成像、微加工和分析能力。FEI Explorer將高分辨率成像、精確的材料處理和元素分析結合到一個資產中,使研究人員和工程師能夠以前所未有的細節和精確度探索微觀和納米世界,推動科學技術的創新和突破。
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