二手 FEI CLM-3D #293670547 待售

FEI CLM-3D是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於表征高分辨率樣品的表面地形和微觀結構特征。顯微鏡具有廣闊的視野和較長的工作距離，非常適合捕捉詳細的特征以及大規模的概述。CLM-3D擁有一個能夠對納米級結構進行高精度成像的真色室。這在成像需要光學或化學分析結構元件的樣品時特別有益。真彩室還使用戶能夠獲得可以交互查看的三維（3D）圖像，也可以保存為數字文件。FEI CLM-3D利用高分辨率光學器件確保樣品表面的精確成像。物鏡具有很長的工作距離，允許更大的場深，同時仍提供滿意的成像分辨率。此外,該物鏡還具有高達30度的收集角度,可實現傾斜視圖成像和確定納米級特征的3D形狀。CLM-3D還具有更快的采集速度,可以每秒捕獲數千張圖像。這樣可以快速分析樣品,大大提高生產率。FEI CLM-3D包括多功能軟件,可促進信息的自動成像、分析和發布。軟件配備了幾個功能，包括自動縫合、多級切片、峰值/槽角強度分析。CLM-3D的模塊化設計提供了一系列可供選擇的配置,具體取決於所使用的應用程序。此模塊化設計有助於減少停機時間、電氣幹擾和優化性能。總而言之，FEI CLM-3D是一種高精度掃描電子顯微鏡，為納米級特征提供了優良的成像特性。適用於材料科學研究、納米材料表征、半導體分析等多種應用。