二手 FEI CLM-3D #9364079 待售

製造商
FEI
模型
CLM-3D
ID: 9364079
Focused Ion Beam (FIB) system, 12" 2011 vintage.
FEI CLM-3D是一種高分辨率可變壓力成像掃描電子顯微鏡(VPI-SEM)。其優越的分辨率、成像能力和靈活性使其與其他掃描電子顯微鏡脫穎而出,使其成為廣泛應用的理想選擇。CLM-3D是一種最先進的設備,用於對尺寸小至5nm的粒子進行3維(3D)成像。它具有最大加速度為30kV的野外發射炮(FEG)和最大加速度為4kV的高性能熱電子炮(TEG),均具有超低殘留氣體。FEI CLM-3D將高分辨率成像功能和高達10,000倍的放大倍率與一套自動化功能結合在一起,使研究人員能夠快速準確地對具有出色細節的粒子進行成像。CLM-3D還具有可調節的膨脹/壓縮室,使研究人員能夠在成像過程中改變樣品壓力。這樣可以確保對樣品進行最佳成像以獲得最大細節,並且樣品穩定到足以提供無失真圖像,並且不會影響清晰度。FEI CLM-3D配備了一系列先進的電子探測器,包括一個大型氣田離子源(GFIS),可以在不需要真空的情況下對樣品進行成像。這種用途廣泛的成像設備還與各種成像階段兼容,如切片階段、傾斜階段、低溫階段和用於研究半導體、金屬和絕緣體的氣場離子級。CLM-3D是納米技術、材料科學和半導體研究領域研究人員的寶貴工具。由於其優越的分辨率和強大的成像能力,FEI CLM-3D是分析即使是最脆弱的標本的理想選擇。CLM-3D是掃描電子顯微鏡技術創新前沿的綜合成像解決方案。
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