二手 FEI FIB 200 #9082663 待售
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ID: 9082663
Focused Ion Beam System
Single beam
Pre-lens ion column:
Provides image resolution of 7nm and milling current up to 11nA
Enables deflection (for scanning) before the final lens, bringing the lens closer to the sample for best spot size
50x50mm XY stage, with rotation, tilt and z-motions
Loadlock with separate pump for fast sample exchange
Turbo pump for main chamber
Real time monitor to observe milling, aka Leader oscilloscope
Keithley Pico-ammeter to measure beam current
(2) GIS types to be selected from: EE, IEE, Metal dep (Pt) or TEOS
Chamber camera and monitor
Operating system: Windows NT
Computer control with FEI software and Seiko screen printer
Manual user interface (MUI), joystick and mouse controls
Manuals
(2) gas injectors with controller: choose from iodine, XeF2, Platinum, or TEOS gases
Line transformer (main), AC distribution box and Maintenance tool kit.
FEI FIB 200是一種先進的高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於材料分析和材料表征等應用。它利用聚焦離子束（FIB）來允許對材料的內部結構進行高度放大的詳細圖像,以及能夠以原子精度采集樣品。憑借其先進的電子和光學系統，FIB 200提供了比大多數SEM更高的分辨率和更快的掃描速度。FEI FIB 200利用場發射源在極高電流下提供電子。這些電子被一系列電磁透鏡聚焦，然後被陽極加速到樣品上。當電子與樣品材料相互作用時，它們產生不同的信號，然後被SEM系統檢測到並處理成圖像。FIB 200有一個球面像差校正器，使它能夠獲得較高分辨率的小特征圖像。該系統中的聚焦離子束是樣品制備的一個關鍵方面。FIB允許用戶獲取樣品材料的一個區域並將其切成薄層進行進一步分析。這種切削工藝非常精確,可以使樣品具有原子精度.它還允許去除表面原子，並將探針和底物沈積到樣品中。FEI FIB 200還提供了一套圖像分析和測量工具，使用戶可以更精確地分析材料。這包括多維顏色映射和自動特征模板等工具。可以導出數據以進行進一步分析,也可以保存數據以供將來參考。總體而言,FIB 200是一款先進的SEM,配備了提供有關納米材料的寶貴信息的工具。其無與倫比的精度和分辨率，加上其集成的FIB，使其成為材料分析和表征的理想儀器。
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