二手 FEI FIB 200 #9120060 待售

FEI FIB 200是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於一系列詳細的表面成像和分析應用。這種先進的成像系統將聚焦離子束（FIB）技術與SEM成像相結合,提供卓越的性能和功能。它非常適合與納米元件和技術有關的顯微鏡和微制造工作。FIB 200具有帶電束室，可同時容納電子槍和聚焦離子槍。電子束用於成像和分析，聚焦離子束（FIB）用於對樣品表面進行微加工和去除晶粒。這樣可以實現極小細節的出色分辨率和成像。顯微鏡操作的電壓範圍為0-30千伏，束電流為0-1000 pA。顯微鏡具有可360度進入樣品表面的旋轉樣本級，可以自動索引到多個角度。通過對樣本進行索引,可以在相對較大的區域中獲取大面積成像和分析。為了改進生成的圖像和分析,包括了一些自動化功能,包括自動傾斜和自動對焦。此外，還可以安裝幾個軟件包，以協助圖像采集、數據處理和與其他系統聯網。除了成像和分析，這個先進的工具還允許直接寫入納米光刻。這是一個非常強大的功能，可用於薄膜沈積，圖案，特定地點的制造，微加工，和其他納米級的修改。總體而言,FEI FIB 200是一種高級、高度自動化的掃描電子顯微鏡,專為廣泛的成像和分析應用而設計。電子與聚焦離子束技術的結合，強大的自動化，以及納米光刻能力，使這款工具成為材料分析和納米級操縱的完美儀器。