二手 FEI FIB 200 #9178157 待售

FEI FIB 200是來自FEI的高分辨率、創新的掃描電子顯微鏡（SEM）技術。這種先進的掃描電子顯微鏡簡化了對納米級材料和物體的觀測。它利用聚焦離子束（FIB）和掃描電子顯微鏡的組合，提供強大的成像能力和樣品制備選項。FIB 200將高能FIB系統和高真空場發射掃描電子顯微鏡合並為一個儀器。強大的FIB系統支持更大的分析能力,提供低寄生束電流和四束操作。這樣就可以精確分析各種曲面上的小特征和特征,並提供出色的圖像對比度和分辨率。FEI FIB 200的場發射掃描電子顯微鏡效率高，提供任何樣品表面或材料的精湛圖像，即使在較低的加速電壓下工作。它支持元素和晶體學模式下的成像，並包括自動SEM對準，因此用戶可以獨立聚焦和傾斜樣品。FIB 200的其他功能包括交互式操作面板、大視野和用於示例導航的自動化軟件系統。易於使用的界面和自動面板操作允許快速導航到示例中所需的區域,因此可以更快速地執行分析,而且工作量更少。對於樣品制備,FEI FIB 200提供了多種切割選項以及傾斜和修改樣品的能力。根據用戶的要求，樣品可以高精度切割、銑削、瘦身或拋光。FIB 200提供的FIB和先進SEM的強大組合，是分析和評價納米尺度材料和物體的絕佳選擇。這臺用途廣泛、可靠的機器能夠滿足高精度和高生產要求,即使在一系列表面和材料上也能輕松觀察到最精致的特性。