二手 FEI FIB 200 #9179238 待售
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已售出
ID: 9179238
優質的: 1999
Focused ion beam system
Magnum ion column
Gallium liquid metal ion source (LMIS)
CCG Vacuum gage
CDEM Detector
(5) Axes compucentric
Stage XYZ: 50mm x 50mm x 25mm
Computer controller: Windows XP Pro SP3 (2002)
FEI xP UI
MUI Controls and joystick
CCD Chamber camera
TMP With mechanical roughing pump
(12) Positions aperture strip
(2) GIS:
Platinum GIS
Xenon difluoride GIS
Includes:
Transformers
Power supplies
Gas injectors:
XeF2
Idep
Pt
FEI / MICRION Vectra 986
Particle beam system
I-Gun type: 5nm Column
Beam current: 3pA~931pA (50KV)
1999 vintage.
FEI FIB 200是一種場發射掃描電子顯微鏡（FESEM）。它是一種電子顯微鏡，利用低能量、高分辨率的掃描電子束獲得清晰清晰的圖像。FIB 200由一對包含電子源的同心圓柱體和與電子束平行的探測器組成。電子源是由一種場發射槍（FEG）產生的，它是一種利用強電勢場發射電子的電子槍。在兩個同心圓柱體之間加速的電子撞擊標本網格，形成二次電子和反向散射電子的模式。這些電子共同形成了一個圖像，揭示了樣品的結構和特征。該裝置還具有0.1-200 pA的可變電子束電流和0.1-30 keV的可變加速電壓，使研究人員能夠獲得最精細的圖像。此外，FEI FIB 200使研究人員能夠使用一系列成像技術，包括：二次電子成像、分析掃描小通道成像、反向散射成像和能量色散X射線（EDX）分析。FIB 200還為樣品制備、分析和改性提供了多種選擇，包括：冷凍制備、超微切開、離子銑削和氣體註入系統。通過將此儀器的功能與傳統SEM的功能相結合,研究人員和工程師都能夠以最高的精確度實現其期望的結果。FEI FIB 200系統操作簡單、用戶友好、高效，是各類實驗室必不可少的工具。由於該系統具有眾多優勢,用戶可以期望在查看樣本樣本時獲得更高的準確性,並在分析和成像方面獲得驚人的結果。
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