二手 FEI FIB 200 #9265437 待售
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已售出
ID: 9265437
Focused Ion Beam (FIB) system
Pre-lens FIB column with ion pump
CDEM Detector
Stage travel: 50 x 50 mm
Gas injector with controller
Turbo pump with backing rough pump
Chamber viewing camera with monitor.
FEI FIB 200是一種市場領先的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於對各種樣品類型進行成像和分析。這種高性能儀器基於場發射電子源和技術創新,可以改進亞納米級的成像。SEM產生與樣品相互作用的二次電子,從而在生成的圖像中產生對比度和細節。FIB 200配備了慣性光刻系統,可以對小至10納米的樣品進行精確、快速的原型制作。該系統利用兩個電子束,可以聚焦和掃描整個目標區域,為用戶提供高精度的成像和圖樣能力。對二次電子信號進行監測,實時調整數據對比度,使用戶能夠有效分析各種樣品類型。SEM還具有可變光束電流控制功能,允許圖像對比度調整,而無需停止成像。儀器裝有最先進的數字信號檢測器,配有強大的電子槍,提供出色的圖像對比度和分辨率。此外,FEI FIB 200能夠進行能量色散X射線(EDX)光譜,以創建樣品的深度剖面。檢測器對各種元素都很敏感,然後可以在軟件中對結果進行評估。FIB 200具有強大的自動化和程序功能,可用於各種用戶定義的操作參數,如成像協議以及光刻和沈積過程的參數。最後,FEI FIB 200擁有一個用戶友好的界面,並包含大量教程和示例圖像,以幫助用戶熟悉該儀器。這使得它成為需要高分辨率成像和分析的研究人員、技術人員和學生的理想工具。
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