二手 FEI FIB 800 #9195240 待售

FEI FIB 800是一種用於分析多種材料的掃描電子顯微鏡（SEM）。它利用強電子束掃描樣品並產生高放大倍數的圖像。電子束由真空室中高壓操作的鎢絲產生。該系統能夠產生高度詳細的納米探針，用於以高分辨率捕捉圖像。FIB 800的分辨率高達2000 nm。樣品被安裝在一個與一系列線性電動機相連的舞臺上，這些電動機可以用來以小步長移動樣品。光束通過電極和各種透鏡聚焦到樣品上，產生很大的視野。檢測器用來捕捉電子與樣品相互作用產生的信號。然後,數據將用於創建可分析特征和缺陷的圖像。FEI FIB 800配備了多種有用的功能,包括一系列電子設備、真空泵、電源和冷卻系統。它也有三軸和遙控系統，允許對樣本階段進行遙控。加速電壓可以從0.1調整到30kV，可調節的光束電流對分辨率提供額外的控制。FIB 800是用於檢查和分析從金屬到半導體的各種樣品的通用工具。它以高放大倍數生成高質量的圖像,幫助工程師和研究人員深入了解其材料的特征。FEI FIB 800的特性和可調節性使其成為各種顯微鏡應用的理想選擇。