二手 FEI FIB 800 #9200349 待售
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ID: 9200349
Focused Ion Beam (FIB) system
Does not include:
GIS
Columns
Circuit boards
30 kV High voltage boxes.
FEI FIB 800是為高級成像應用而設計的高端掃描電子顯微鏡（SEM）。它配備了先進的分析包，其中包括一個能量色散X射線光譜儀（EDS）、一個波長色散X射線光譜儀（WDS）和一個Au-metal蒸發器，以方便表面敏感分析技術。該儀器用於材料科學、地質學、半導體工程和生物學等多個學科的亞納米級成像和分析。FIB 800在成像能力上能夠顯示極高的細節和分辨率。SEM利用一種獨特的掃描電子束，在多種不同的束能量下運行，得到二次電子、反向散射電子、光譜分析、能量損失光譜法和低壓成像。這樣可以非常精確地捕獲和分析極小的對象,例如病毒或晶格。成像區域的照明也可以變化強度，並且可以調節，以適應各種樣品厚度和表面條件。FEI FIB 800有一個裝有電控試樣級的腔室，可實時成像靜態和動態過程。這一階段在以非常低的慣性和振動移動樣品方面具有很高的精度和精確度，這在對易碎或生物樣品進行成像時尤其有益。EDS使用戶能夠識別和分析樣品材料的元素組成。WDS用於檢測和量化當光束被電子轟擊時從樣品發出的X射線的組成，而蒸發器則使濺射或沈積到樣品表面上。此外,該儀器的成像能力通過其內置的分析軟件進一步增強,該軟件可用於測量樣品特征的面積、強度、邊緣清晰度甚至表面元素。FIB 800功能強大、精密,能夠對各種樣品執行各種復雜的成像和分析任務。其卓越的分辨率和廣泛的分析能力使其非常適合各種成像應用。
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