二手 FEI FIB 800 #9393458 待售
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ID: 9393458
Focused Ion Beam (FIB) System
Deposition system: Pt, EE
XL50 Motor stage: 200 mm
Loadlock type: Loadlock
Detector: CDEM
I-Gun:
Type: Prelens column
Beam current: 1 pA - 11 nA
Vacuum type:
Turbo-molecular pump
Mechanical pump
Ion getter pump
Operating system: MS Windows NT.
FEI公司開發的FEI FIB 800是一款功能強大的掃描電子顯微鏡,具有高分辨率、成像和微分析能力的先進功能。憑借其廣闊的視野和超高分辨率成像,FIB 800可以在許多科學和工業應用中達到前所未有的細節和信息深度水平。FEI FIB 800裝有雙槍場發射槍(FEG)電子光學柱和冷場發射掃描電子顯微鏡(CFEG-SEM),是一種獨一無二的技術組合,能夠實現無與倫比的圖像質量、分辨率和景深。FEG柱負責產生高通量的電子束,以高對比度和分辨率創建極清晰、銳利的圖像。CFEG-SEM技術旨在提供極詳細的圖像,最大分辨率高達2nm,這是掃描電子顯微鏡行業中可達到的最高分辨率之一。FIB 800的多功能性擴展到需要分辨率高於10nm或100 nm的材料科學、化學、地質和生物領域的應用。除了其高分辨率成像外,FEI FIB 800還具有一系列精密的分析技術,如器件探測和納米OVIT編程、能量色散X射線光譜(EDS)、電子反向散射衍射(EBSD)、低kV二次電子成像(SEI)、原子力(Atomic Proce)。此外,FIB 800的高級軟件包允許自動分析和收集數據,從而使用戶能夠快速準確地分析結果。FEI Visualization軟件套件包含一系列功能強大的工具,如自動區域位置檢測,用於精確測量和即時結果。FEI FIB 800是在掃描電子顯微鏡中尋求最高水平成像和微分析能力的專業人士的理想選擇。憑借其先進的功能組合,FIB 800可以滿足廣泛科學領域最苛刻的要求。
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