二手 FEI FIB-800THP #9104128 待售

FEI FIB-800THP是一種掃描電子顯微鏡（SEM），可用於高分辨率查看和分析多種不同的材料。它會為它所查看的樣本生成極其詳細的圖像,因此非常適合各種應用程序。FIB-800THP能夠成像分辨率低至1納米的樣品。這意味著它可以對單個原子成像，其中大部分通常肉眼看不見。它非常適合材料研究，提供了組成、微觀結構、地形、缺陷分析等材料特性的詳細景觀。FEI FIB-800THP也可用於許多不同的材料表征技術，包括能量色散光譜（EDS）和電子反向散射衍射（EBSD）。這些是用於確定樣品組成和結構的重要過程。EDS可以產生跨大表面元素成分的圖像，EBSD可以用來分析晶體結構和紋理。此外，FIB-800THP還可用於反向散射電子成像（BSE）、二次電子成像（SEI）、陰極發光（CL）等多種成像模式。BSE圖像是由樣品表面的電子束反射產生的，在該區域的不同材料之間形成對比。SEI圖像集中在樣品的表面地形上，以低至0.5納米的分辨率產生非常詳細的圖像。CL通過測量樣品電子轟擊後可見光的發射產生圖像。總體而言,FEI FIB-800THP是一種用途極為廣泛的成像工具,可用於從材料研究到半導體分析的各種應用。高分辨率和多種多樣的成像技術使其成為眾多應用的理想選擇。