二手 FEI FIB-800XP #9104016 待售

FEI FIB-800XP是一種先進的掃描電子顯微鏡（SEM），非常適合各種納米級成像和分析應用。它提供了一個更高的分辨率，能夠成像和分析樣品低至0.1nm。該800XP在雙束系統上運行，以獲得最佳的靈活性，允許用戶在電子束誘導沈積（EBID）和聚焦離子束（FIB）銑削等用途之間切換。SEM主列提供了多種特定於站點的成像和特征描述功能。一個獨特的、堅固的環境確保了最優樣品的保存與最小振動，最小化樣品損壞的風險。電子束由熱電子場發射槍（FEG）發射器產生，該發射器在有限的能量範圍內發射電子。這樣可以通過更好的圖像對比度來確保更高的圖像質量,這種對比度的特點是具有更大的聚焦深度和更高的靈敏度。除了先進的SEM成像之外，FIB-800XP還包括一個用於FIB操作的柱內離子束磨機（IBM）。IBM由Ga離子源供電,用於精確的FIB銑削和沈積。它具有構建具有高分辨率結構清晰度的3D結構的能力。該800XP有一個數字探測器，它可以捕獲更多的列中的排放物，為3D分析提供最高質量的圖像。800XP還包括利用能量色散X射線光譜分析表面成分的能力。該系統可用於捕獲樣品中元素的分布以及它們之間的化學鍵的信息。該800XP還提供了自動操作電子束的必要軟件，用於分析成像和光譜。這包括旨在最大化效率、提高數據準確性和減少操作錯誤的高級自動化功能。FEI FIB-800XP具有雙光束技術、高分辨率SEM成像、FIB銑削和EDS功能,為研究人員的納米級研究提供了先進可靠的工具。因此,這些功能結合其最先進的設計、靈活的特性和高性能,使其成為各種成像和分析任務的理想選擇。