二手 FEI Inspect-F #9284147 待售

FEI Inspect-F是一種掃描電子顯微鏡（SEM）系統,專門設計用於結構分析和檢查各種材料和半導體器件。Inspect-F提供低壓成像功能,提供一系列選項,包括反向散射電子成像、二次電子成像和陰極發光成像。低壓成像有助於提供樣品表面層的詳細圖像，從而能夠對對於普通SEM來說太小的超細樣品進行成像。FEI Inspect-F具有高達1nm的卓越分辨率,該功能允許對材料的納米級特征進行放大視圖。它還配備了數字信號處理器,可幫助快速記錄和處理圖像。在精確度方面，該SEM有一個自動化的固態漂移校正系統，有助於保持標本的位置在不同放大倍數下準確；這有助於保持成像定位的準確性並提高樣品分析的速度。該儀器的特點是有一個鎖載室和一個自動交換站，為用戶提供各種處理和分析樣品的選擇。這包括樣品選擇、清洗、準備等。樣品室可以冷卻或加熱，以確保樣品在觀察時始終保持在最佳操作參數內。Inspect-F包括各種高級成像選項,如自動特征檢測、圖像縫合、3D圖像等。這有助於更詳細地了解所分析的樣本。出於研究目的，FEI Inspect-F包括電子束、電子探測器、信號處理系統、圖像處理軟件等廣泛的分析工具。有了這些，用戶甚至可以繪制出標本特征中最微不足道的細節。Inspect-F是一種先進而有力的工具，它提供對任何樣本的透徹分析和檢驗。這種掃描電子顯微鏡具有多種先進的特征和成像工具，提高了獲得的數據的準確性和樣品分析的速度。它的特點，加上高達1nm的非凡分辨率，使得這種儀器成為任何尋求探索材料和裝置的復雜細節的研究者所必備的。