二手 FEI Inspect F50 #9224409 待售

FEI Inspect F50是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於材料的無損分析。它提供了一系列功能來提供最高質量的成像技術,包括高級設計和工程,以提高樣品吞吐量、出色的分辨率和準確性。Inspect F50裝有柱內能量濾波器，可提升分辨率，提供更精確的樣品細結構成像。此外，柱內檢測器是可調的，以提供對比度和整體視場的理想平衡。這確保了操作員能夠達到最佳對比度和圖像質量,這對於查看材料的薄層特別有用。柱內能量濾波器還降低了樣品接收到的總電離劑量（TID），使其成為損傷敏感材料的理想選擇。FEI Inspect F50還具有多種高級成像選項，包括反向散射電子（BSE）成像、可變壓力成像和電子反向散射衍射（EBSD）成像。SEM的反向散射電子模式使操作員能夠檢測樣品的元素組成和化學狀態。可變壓力成像在低真空下提供更高質量的成像，使其成為涉及化學改變的應用的理想選擇，如腐蝕映射和水合樣品成像。最後，EBSD成像可用於分析樣品的晶體學結構，這為分析樣品的性質和行為提供了重要的見解。Inspect F50還具有一系列人性化的特點，使樣品制備、成像、分析簡單明了。例如,通過xyz和theta控制,舞臺電機提供了廣泛的行程,因此用戶可以快速準確地將樣品移動到適當位置進行成像。此外,操作控制臺還可以輕松訪問所有顯微鏡功能和設置,使專家和新來者都能利用SEM的功能。總體而言，FEI Inspect F50是材料研究和分析的優秀SEM。它結合了先進的成像功能和直觀的操作系統,使其成為研究實驗室和行業的理想選擇。