二手 FEI Inspect S50 #293624510 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

製造商
FEI
模型
Inspect S50
ID: 293624510
優質的: 2012
Scanning Electron Microscope (SEM) THERMO NORAN Ultra Chamber Secondary and backscatter detectors Dry XRF System Pumps PC Manuals 2012 vintage.
FEI Inspect S50是一種用於研究和材料分析的掃描電子顯微鏡(SEM).這種高分辨率的SEM允許在寬範圍內快速精確地成像,放大倍數可達500,000倍。檢查S50功能的特定數字探測器地形成像有機和無機材料。它的數字相差成像技術能夠讓用戶檢查生物系統的各個發展階段,從細胞壁到特定的生物分子。其數字閉環控制技術提供精確掃描,具有較長的運行壽命和快速的數據采集,產生高對比度成像。集成的CCD攝像頭和圖像控制器具有先進的圖像處理和即時過濾功能。這些成像功能與直觀的用戶界面相結合,使具有有限SEM經驗的操作員能夠產生可靠、可重復的結果。FEI Inspect S50還提供了許多高級自動化選項,例如跨大視野的自動快速掃描、自動圖像縫合和自動數據分析。板載預掃描色度和方向校正系統最大限度地減少了下遊分析時間並提高了吞吐量。檢查S50還配備了一個環境室。這使用戶能夠在受控環境中對未覆蓋的樣品進行成像和測量。集成加熱和冷卻、自動氣流控制、樣品環境監測等特點使得即使是最精致的樣品也能保持精確的環境條件。總之,FEI Inspect S50是一個高分辨率的SEM,它提供了高級成像和自動化功能,可實現可靠、可重復的結果。它能夠產生放大倍數可達500 000倍的地形圖像,其環境室允許它在受控環境中對未發現的樣品進行成像和測量。該系統非常適合任何材料分析和研究應用。
還沒有評論