二手 FEI Inspect S50 #9150862 待售
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ID: 9150862
優質的: 2010
Scanning electron microscope (SEM)
Windows 2000
Tungsten hair pin type
TMP vacuum system
SE / BSE / CCD / ESEM option
Fully motorized stage system
XL 30 chamber system
Ion coater SPI
Anti vibration system
2010 vintage.
FEI Inspect S50是一種掃描電子顯微鏡（SEM），具有獨特的成像、分析和快速3D斷層掃描功能。該S50的分辨率為0.8 nm,使其能夠生成具有卓越細節的圖像。它還擁有300毫米的工作距離,允許用戶快速、輕松地制作高達120 x 160mm的樣本圖像。Inspect S50還有一個額外類型的電子探測器，它允許用戶測量樣品的厚度和組成而不會損壞樣品。這是通過電子反向散射衍射（EBSD）探測器實現的。EBSD檢測器也可用於現場測量樣品中的應力和應變。該S50還提供了一系列其他功能。它具有測量納米範圍內薄層的能力。這是由微波束系統實現的，該系統提供了具有高達4KV加速度電壓的可重復數據采集。該S50還帶有集成光譜儀，允許用戶測量X射線發射或反向散射光譜，以準確確定材料成分。此外,該S50還具有先進的3D斷層掃描功能。借助高達43nm的三維分辨率,用戶可以以前所未有的細節生成微小結構的重構。該S50還提供了高級成像功能,例如自動縫合功能,允許用戶將圖像縫合在一起,生成具有更大圖像細節的更大圖像。總體而言,FEI Inspect S50是一種出色的掃描電子顯微鏡,用於成像、分析和3D斷層掃描任務。該S50具有出色的分辨率、較大的工作距離、廣泛的探測器和先進的成像功能,能夠生成各種尺寸和材料樣品的詳細和準確的圖像。
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