二手 FEI Inspect S50 #9159235 待售
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單擊可縮放
ID: 9159235
優質的: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM)
Secondary Electron Detector (SED)
Large Field Detector (LFD) low vacuum
GBSD Included
IR Camera for viewing sample in chamber
Electron beam current measurement
Color optical camera for sample navigation
Tungsten hair pin type
TMP Vacuum system
Fully motorized stage system
XL 30 Chamber system
USB Connecting board nonfunctional
70 l/s Turbo Molecular Pump (TMP)
Patented through-lens differential pumping
Beam gas path length: 10 mm / 2 mm
Oil rotary pump
Chamber vacuum (High): 9.10-4 Pa
Chamber vacuum (Low) < 10 to 270 Pa
Evacuation time:
≤ 150 s to (High vacuum)
≤ 270 s to (Low vacuum)
Low vacuum:
3.0 nm at 30 kV (SE)
4.0 nm at 30 kV (BSE)
10 nm at 3 kV (SE)
Sample holders:
Multi-stub holder
Single stub mount
Mounts directly on to stage
Wafer and custom holder
Does not include:
Scintillator BSED / CLD
Low Voltage Contrast Detector (VCD)
High Contrast Detector (CD)
Gaseous Analytical BSED (GAD)
Cathodoluminescence
WDS and EBSD
Stem detector
Packing list:
Main chamber with desk for display
(2) Control PCs
(2) Monitors
Oil rotary pump
Control pad
Keyboard
Operating system: Windows 2000
2010 vintage.
FEI Inspect S50是一種通用、可靠的掃描電子顯微鏡（SEM）.這款放大鏡的放大倍率高達五萬倍，非常適合需要卓越細節的應用。它能夠使用二次電子、反向散射電子和透鏡檢測器系統來觀測所需樣品。該設備采用獨特的鏡頭內探測器工藝，以最大限度地提高準確度並創建樣品的清晰圖像。作為一個額外的好處，該檢測器最小化矩陣幹擾和消除失真，導致優於其他SEM的圖像。對於那些需要精確高效掃描電子顯微鏡的人來說，檢查S50提供了廣泛的用戶友好功能，使其成為理想的選擇。該系統包括數字X射線探測器、自動漂移校正單元和快速掃描功能，使其易於使用並提供高效的標本成像。除了全面的掃描功能外,FEI Inspect S50還提供了多個外圍設備系統以進行進一步分析。其中包括用於改進溫度調節的低溫機，以及用於特殊分析的環境掃描電子顯微鏡（ESEM），如超低真空成像。其他功能包括全自動校準、高級掃描技術、具有卓越分析能力的雙檢測器設計以及大量附件。檢查S50提供高性能成像功能和各種功能,使其成為需要高分辨率和細節的樣品的理想工具。它易於使用的設計和全面的外圍設備系統使其成為各種專業應用程序的理想選擇。
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