二手 FEI Inspect S50 #9293781 待售

FEI Inspect S50是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於多種行業的環境表征、成像和分析測量。它是一個多技術平臺，可以在單個顯微鏡上進行定性分析和定量成像。檢查S50利用最新技術,結合了SEM、EDX和EBSD功能的獨特組合。這提供了極高水平的成像精度和細節，遠遠優於傳統的成像方法。這臺機器具有一個大的，高分辨率的彩色顯示屏，可以方便地觀察圖像在各種放大。一個獨特的導覽導航程序可以實現準確的操作。FEI Inspect S50的微觀模式允許分析亞微米級的材料，提供比其他方法更高的分辨率。Inspect S50的能量色散（EDX）光譜功能允許元素組成分析,使用戶能夠檢測和分析元素濃度,即使元素的含量很低。一個獨特的能量過濾電子反向散射衍射（EBSD）提供無與倫比的控制方向和晶粒尺寸的材料。FEI Inspect S50有兩種版本：普通版和導電版。普通版本的Inspect S50具有高水平的成像分辨率和速度,工作電壓高達30kV。FEI Inspect S50的導電版本提供了高達45kV的更高工作電壓,並結合了更高的圖像分辨率和更快的速度來進行更高的性能分析。檢查S50是為最終的操作可靠性而設計的。平臺設有集成真空系統，為穩定安全的工作環境提供高殘余壓力和優化電離水平。這允許長時間的不間斷操作,而無需日常維護。FEI Inspect S50是用於環境特征、成像和分析測量的高效工具。它具有獨特的SEM、EDX和EBSD功能組合,具有高水平的圖像分辨率和速度。集成真空系統確保了超穩定的環境和可靠的長期使用，而高達45kV的高工作電壓提供了進一步的精度。