二手 FEI Inspect S50 #9402635 待售

FEI Inspect S50是一種最先進的掃描電子顯微鏡（SEM）。設備的先進成像和分析能力旨在為檢查、分析和表征許多行業的各種材料提供卓越的性能和分析能力。Inspect S50配備了場發射槍（FEG），它使用集中的電子束來創建高分辨率、高對比度的圖像。集成數字信號處理器（DSP）將圖像采集速度提高了四倍，從而提高了操作速度和吞吐量。該系統還包括一個雙級冷場發射（CFE）槍，具有極低的噪聲和高通量的卓越質量成像。該裝置有一個高性能的500萬像素（5MP）相機，以提高成像質量和清晰度。一個大的腔室可以操縱尺寸不超過22毫米的樣品，自動化的舞臺可以進行精確的定位和樣品導航。該機采用能量色散光譜（EDS）和大型矽漂移檢測器（SDD）,改進了元素分析。FEI Inspect S50配備了一套軟件工具,旨在最大限度地提高性能和生產力。這些工具包括自動階段操作、3D電子斷層掃描、自動圖像處理和校正、樣本跟蹤和光譜分析。這些特性使Inspect S50成為材料研究、故障分析和納米結構分析等應用的理想工具。總體而言,FEI Inspect S50是一種功能強大且用途廣泛的掃描電子顯微鏡,為許多行業提供卓越的成像和分析能力。該工具具有先進的功能和用戶友好的界面,非常適合許多應用程序,是尋求高性能和靈活性的實驗室的理想選擇。