二手 FEI Magellan 400 #9162822 待售
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已售出
ID: 9162822
優質的: 2010
Scanning electron microscope (SEM)
Extreme high-resolution (XHR)
Sub-nanometer resolution: 0.8 nm at 30 kV
Very low voltage / Bias activation: Imaging of non-conducting materials
Resolved surface and materials imaging
Chemical
Crystallographic
Options:
STEM Detector
Quick loader
Navigating camera
(2) Monitors
Computer
Not included:
EDS
Active vibration system (Floor isolator)
2010 vintage.
FEI麥哲倫400是一種先進的掃描電子顯微鏡(SEM),專為多種研究和工業應用而設計。該系統具有廣泛的功能,包括高分辨率成像、分析和處理樣本。麥哲倫400提供高分辨率成像和易於使用的控件的獨特組合。利用場發射槍(FEG)源,在標本階段可以同時觀察到二次電子和反向散射電子。高對比度和高分辨率成像增加深度和放大可以與SEM。此外,由於電子束點較短,FEI麥哲倫400具有較高的圖像對比度和精細的細節。麥哲倫400利用一個通用的樣本階段和自動掃描功能,允許進行廣泛的研究。它配有薄膜塗層單元,可用於在成像前濺射塗層樣品。它還具有低能束電流探測器,可以分析非常薄和/或細膩的材料。SEM可以與照相機和計算機等外部設備連接,包括成像和分析軟件包。FEI Magellan 400采用直觀的用戶界面和可定制的操作員選項設計,使其成為各領域科學家的寶貴工具。其掃描和成像能力可用於研究範圍廣泛的樣品,從無機材料到生物樣品。研究人員可能利用SEM來研究一系列現象,從陶瓷復合材料的微觀結構到激光照射對神經元細胞的影響。麥哲倫400是一種多功能儀器,滿足各個研究和工業領域的需求。它是對各種材料進行高分辨率成像和分析,以及操縱用於高級研究的標本準備工作的有力工具。FEI麥哲倫400是科學研究和工業生產必不可少的設備,滿足了廣泛學科用戶的需求。
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