二手 FEI Magellan 400 #9180764 待售
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已售出
ID: 9180764
Scanning electron microscope (SEM)
Extreme high-resolution (XHR)
Sub-nanometer resolution: 30 kV down to 1 kV
Resolved surface and materials imaging
Options:
STEM Detector
Quick loader
Navigating camera
(3) Monitors
(1) Computer
Not included:
EDS
Active vibration system (Floor isolator)
Currently de-installed and crated.
FEI麥哲倫400是一種掃描電子顯微鏡(SEM),廣泛應用於多種研究和行業應用。麥哲倫400是一款功能強大的SEM,提供多種成像模式,包括二次電子成像、反向散射電子成像、電子束感應電流成像以及被稱為4D成像的新型成像模式。這種4D成像模式將所有三種成像模式組合在一個幀中,以提供更高的對比度和很難單獨使用任何成像方法檢測到的特征。FEI麥哲倫400配備了獨特的電荷控制系統,使其能夠以非常低的噪聲水平和高對比度捕捉圖像。它還具有獨特的電流控制系統,允許用戶實時控制電子束波形。這樣就可以生成一個以上的波形並生成可用於增強圖像中對比度和細節的特定模式。麥哲倫400還配備了高端的X-Y樣品級,提供了對樣品平移和旋轉的精確控制。樣本階段還可用於分析高放大倍率的表面特征,如地形和圖樣特征。此外,顯微鏡包括一個內置光源,允許在透射光中直接觀察樣品,使其成為光學分析的寶貴工具。FEI麥哲倫400能夠提供成像和分析能力。它提供同步成像模式的能力和很長的工作距離使其成為材料科學和半導體應用的理想選擇。其精密的分析和成像模式使其適合於醫療診斷、納米技術和其他研究及工業應用等市場使用。該儀器可用於成像各種材料,包括金屬、半導體和聚合物,以及生物樣品。總體而言,麥哲倫400是一種多功能掃描電子顯微鏡,為各種應用領域提供高分辨率成像和分析能力。該儀器可用於捕獲低噪聲水平和高對比度的圖像,產生多個波形,分析地形和圖樣特征,以及在透射光中觀察樣本。
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