二手 FEI Nova NanoSEM 230 #293695404 待售

ID: 293695404
Scanning Electron Microscope (SEM) STEM Type: FEG Helix detector VCD Detector LVD Detector BSED Detector GAD Detector Manual control panel LowVac mode Immersion ultra high resolution mode Cryo pump Dry scroll pump Chiller Air compressor.
FEI Nova NanoSEM 230是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於研究實驗室和生產現場。這款先進的SEM提供了卓越的映像功能,同時占用的空間比其他型號少。NovaNanoSEM 230能夠在與正確的成像條件配對時實現原子分辨率成像。這使其成為科學家和工程師的理想選擇,他們需要將單個原子和分子作為其研究或開發工作的一部分進行可視化。FEI NanoSEM 230利用多種創新技術提供卓越的成像質量和分辨率。它配備了一個電光聚焦電子束儀器,可以對納米級分辨率的樣品進行成像。此功能使FEI成為可視化樣品原子結構以及在高放大倍率下觀察樣品精細細節的理想選擇。除了電子束儀器外,FEI Nova NanoSEM 230還結合了其他三個被稱為燈絲控制設備、槍炮控制系統和檢測器的組件。燈絲控制單元由一個可變電流燈絲電源、電子槍和偏轉器組成,用於控制光束散度和光斑大小。槍和槍控制機確保電子束在成像過程中保持其聚焦形狀。檢測器是一種X射線檢測器,它提供有關樣品元素組成和化學結構的信息。FEI NanoSEM 230能夠成像各種材料,包括金屬、塑料、復合材料、電介質、半導體和有機材料。它還提供了不同的成像模式,如反向散射成像、能量色散光譜(EDS)、淺層深度剖析(SDP)和低溫成像,用於探索較冷的樣品。總體而言,Nova NanoSEM 230是一款前沿的SEM,可為科學家提供高分辨率成像能力和多種成像模式。可用於對多種材料進行成像,並具有與正確條件配對時實現原子分辨率成像的能力。這種組合使得FEI NanoSEM 230成為掃描電子顯微鏡領域高水平研發的必備工具。
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