二手 FEI Nova NanoSEM 230 #9150375 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

ID: 9150375
優質的: 2010
Scanning electron microscope (SEM) Retractable low-kV high-contrast detector Through lens detector Backscatter detector SED Auto stage Chamber CCD Ion coater Dry scroll pump UPS System 6-Channel detector amplifier (20) Specimen stubs for SEMs Thermal printer kit LCD Monitor, 19" Manual user interface Acoustic enclosure for pre-vacuum pump 5-Axes motorized stage (field upgrade) Optic Gun: SE-cathode electron gun Pump: (2) Ion pumps Aperture: Multiple hole aperture Detector: SED GBSD BSD RBSD CCD: IR CCD Camera Chamber Stage: X, Y, Z, R Axis motor drive Tilt: Manual Chamber: Std XL 30 chamber Pump: Turbo pump Air anti vibration system Control system PC: Microscope control PC (HP XW4800T) Support PC (HP XW4800T) LCD, 19" ETC: Microscope control PAD for FEI Keyboard Mouse Switching box for Keyboard and Mouse MITSUBISHI Video printer - P93D Power rack PCB: 30KV HT unit Pump: EDWARDS XDS10 scroll pump Diaphragm pump: SINKU KIKO DA-60D 2010 vintage.
FEI Nova NanoSEM 230是一種先進的掃描電子顯微鏡,旨在產生低至納米級的材料的高分辨率圖像。這種超高分辨率儀器利用電子束掃描並生成樣品的詳細圖像,使其成為分析和觀察多種材料和納米結構的有力工具。NanoSEM 230提供了一系列電子束能量,範圍從2 keV到30 keV,在40 kV下工作時束點大小仍小於10 nm。該分辨率適用於小型結構和納米材料的表征。該系統配備了一套最先進的探測器,能夠同時檢測二次電子、反向散射電子和發射電子。這允許用戶從許多不同的方向查看示例,從而創建更清晰的圖像。Nova NanoSEM 230提供的高分辨率圖像可用於許多應用,如成像磁性結構、研究納米線中的電導率、測量薄膜的電性能、表征微和納米結構、觀察納米級非晶態材料的結構等。電子束也可用於進行成像、蝕刻和沈積。此外,雙光束設施允許對樣品進行三維成像。該儀器配備了自動溫濕度控制系統和渦輪泵,以降低操作腔室壓力,最大限度地減少樣品和電子探測器之間氣體分子的影響。NanoSEM 230從Windows 10觸摸屏用戶界面操作,使用戶可以輕松控制儀器並訪問保存的數據。FEI Nova NanoSEM 230是一種功能強大的掃描電子儀器,非常適合納米材料分析和納米結構成像。NanoSEM 230具有超高分辨率的功能、最先進的探測器和廣泛的光束能量,為納米級的材料提供了寶貴的圖像。
還沒有評論