二手 FEI Nova NanoSEM 230 #9397633 待售

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ID: 9397633
優質的: 2006
Scanning Electron Microscope (SEM) Detector: ETD TLD EDX 2006 vintage.
FEI Nova NanoSEM 230是一種高分辨率掃描電子顯微鏡(SEM)。NanoSEM基於FEI場發射電子光學的巧妙設計原理,為納米技術相關領域的成像、分析和顯微鏡能力提供了更高的性能水平。在硬件方面,Nova NanoSEM 230能夠提供從1kx到300 kx的放大倍率,並利用0.5-30kV.The大範圍動態成像系統的發射能力,可以輕松區分復雜的表面特征,同時還可以研究納米顆粒等較大的特征。該系統憑借其可變加速電壓和球差校正器功能,能夠提供以特定方向呈現的小型特征的快速、詳細圖像,為操作員提供其樣本的全面視圖。利用二次電子和反向散射電子,NanoSEM提供了四種檢測模式,因此可以執行各種分析任務。該設備的漂移校正算法(DCA)進一步增強了設備的成像能力,該算法在成像過程中自動校正SEM樣品定位中的任何偏轉,以確保穩定的結果。此外,NanoSEM先進的檢測器未對準補償功能即使在更高的放大倍數下也能最大程度地減少圖像中的模糊和失真,從而實現精確的成像。SEM設計為用戶友好,具有直觀的觸摸屏操作。控制由軟件FEI FEGSEM v2提供,它將SEM自動化操作與強大的成像和分析功能集成在一起。總之,FEI Nova NanoSEM 230是納米技術領域專家的絕佳選擇,提供了其他系統無法比擬的高功率、分辨率和精度的組合。因此,它為查看、分析和解釋納米尺度的復雜材料樣品提供了一個可靠的平臺。
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