二手 FEI Nova NanoSEM 400 #9282097 待售

FEI Nova NanoSEM 400掃描電子顯微鏡（SEM）是同類儀器中最先進的儀器之一,為質量控制和研究目的提供材料的納米分辨率成像。這種SEM利用高分辨率電子探測器捕捉各種材料中樣品的高分辨率圖像，包括金屬、聚合物、復合材料、木材復合材料和半導體。它所產生的圖像比傳統的成像方法亮度高十倍，並且可以放大樣品高達原始尺寸的40萬倍。Nova NanoSEM 400具有多種功能,能夠提供高質量的圖像。高分子重量的鏡頭提供了宏偉的圖像質量在廣泛的放大。它的低振動電動級使用戶能夠快速準確地移動,以便準確地測量或繪制樣本中的特征。此外,FEI Nova NanoSEM 400還允許通過其自動導航功能輕松瀏覽詳細的樣本圖像,該功能可在幾秒鐘內自動引導電子束覆蓋整個樣本。這種掃描電子顯微鏡還配備了能量色散X射線探測器，能夠分析樣品內的元素組成。該系統非常適合分析合金的分離和特定元素的濃度，以及測量樣品中不同元素的比例。此外，NanoSEM 400還包括一個超光譜成像系統，使研究人員能夠同時捕獲多波長的各種圖像並獲得樣品的整體視圖。Nova NanoSEM 400提供通用的樣品分析。它能夠產生分辨率低至4nm的2D和3D圖像。也適用於生物樣品、地質樣品、礦物等非導電材料成像。它甚至可以用來測量材料的變形，例如由於機械應力而產生的新特征的成核和生長。總體而言,FEI Nova NanoSEM 400是一款功能極其強大且精確的工具,其性能遠遠超出了傳統的成像技術。它非常適合在研究和質量控制環境中的各種自動化分析和檢查應用。