二手 FEI Nova NanoSEM 400 #9284372 待售

FEI Nova NanoSEM 400是下一代掃描電子顯微鏡（SEM），旨在適應最先進的納米尺度成像要求。NanoSEM 400具有高達0.8nm的高分辨率成像能力,是故障分析、電路掃描、缺陷識別和可視化表面地形等應用的理想工具。顯微鏡的高分辨率成像得益於其場發射槍（FEG）電子源，產生了極聚焦且高亮度的電子束。這使得NanoSEM 400能夠以比其他SEM系統更低的放大倍率掃描和成像樣品表面,從而實現更好的分辨率和更高的精度。此外，FEG電子源提高了精度和成像穩定性。Nova NanoSEM 400具有一系列先進的成像能力，如變壓環境掃描電子顯微鏡（ESEM）、低真空掃描、二次電子成像（SEI）、反向散射電子成像（BSEI）。ESEM使用戶能夠在不需要任何塗層或高真空的情況下對非導電樣品進行分析,使其成為生命科學和法醫學應用的理想選擇。SEI和BSEI允許對樣品地形和化學進行觀測，從而可以獲得樣品的詳細和全面的圖像。FEI Nova NanoSEM 400還能夠進行自動化和機動化的級控制,允許在大面積上進行自動晶圓掃描。這樣就可以為大型和復雜的樣本提供高度詳細的圖像,例如集成電路和MEMS設備。為進一步方便起見，該系統還能夠通過互聯網進行遠程操作，從而便於維護和支持。Nova NanoSEM 400是一個先進但用戶友好的系統,幾乎可以輕松集成到任何實驗室環境中。FEI Nova NanoSEM 400具有高分辨率成像功能和全面的成像選項,是解決最復雜的納米成像要求的理想工具。