二手 FEI Nova NanoSEM 450 #293809852 待售
網址複製成功！
ID: 293809852
Scanning Electron Microscope (SEM)
Resolution:
High vacuum imaging, optimum WD
0.8 nm at 30 kV (STEM)
1.0 nm at 15 kV (TLD-SE)
1.4 nm at 1 kV (TLD-SE) without beam deceleration
3.5 nm at 100 V (DBS)
High vacuum analysis, analytical WD
3.0 nm at 15 kV and 5 nA (TLD-SE)
Low vacuum imaging, optimum WD
1.5 nm at 10 kV (Helix detector)
1.8 nm at 3 kV (Helix detector)
Detectors:
In-lens SE Detector (TLD-SE)
In-lens BSE Detector (TLD-BSE)
Everhardt-Thornley SED
Low vacuum SED (LVD)
IR-CCD
High sensitivity low kV Directional Backscattered Detector (DBS), Lens-mount
TV-Rate low vacuum solid-state BSED (GAD)
Stage:
Type: Eucentric goniometer stage, 5-axes motorised
XY: 110x110mm DC motors
Repeatability inf 2.0 µm (at0° tilt)
Z: 25 mm
R: nx360°
Tilt: -15°/+75°
Analytical working distance: 5 mm
Accessories:
GIS Carbon
GIS Platinum
Plasma cleaner
PC Support
User manual interface.
FEI Nova NanoSEM 450是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於高分辨率成像和分析微米級和納米級。這種最先進的設備具有超導冷卻場發射電子槍、高速偏轉器和超高分辨率探測器，可實現無與倫比的成像性能。該技術利用超高真空設備，允許更大的空間在柱之間填充電子，從而提高分辨率，提高圖像質量。這有助於減少圖像模糊並刪除圖像結果中的噪聲。另外，低電子束能量消散很快，才能對標本造成損害。源的高亮度和小斑點大小可實現高達1nm的分辨率,這意味著可以看到樣品的較小區域。Nova NanoSEM 450比以往任何時候都具有更高的分辨率,可以比以往任何時候都更詳細地了解樣品中的細節。SE上的用戶友好界面具有最新的Windows操作系統,使數據處理變得快速高效。設備中的所有組件都已集成,因此用戶可以快速調整其設置和工具。FEI Nova NanoSEM 450上的探測器機提供了一種增強的智能成像工具,用於詳細分析。這允許收集多個信號，包括次級電子和反向散射電子以及其他信號。探測器資產還消除了大多數可能幹擾成像過程的信號。許多其他功能,如自動采樣階段、電動鏡頭移動、自動校準程序、樣品加熱和冷卻以及集成的電子束寫入功能,與Nova NanoSEM 450並駕齊驅,為掃描電子顯微鏡提供了最高質量的數據收集。憑借其直觀的軟件和卓越的成像分辨率，FEI NanoSEM 450是當今最好的掃描電子顯微鏡之一。
還沒有評論