二手 FEI Nova NanoSEM 450 #9070198 待售
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ID: 9070198
FE-SEM
Manual user interface
Support computer
Helix detector
Retractable STEM detector (STEMIII)
DBS detector retractable
GAD low-kV SSBSED
6-Channel detector amplifier
Quick loader
STEM III quickloader adaption; pre-tilted holder
Plasma cleaner
CryCleaner EC
Nav-Cam
SIS Scandium imagine software
(4) SIS Scandium desktop license
SIS Scandium solution height
Network dongle licences 50
Correlative navigation
4" Wafer holder
6" Wafer holder BON
UMB Specimen holder kit
Acoustic enclosure for prevacuum pump
50-pin electrical feedthrough
7-pin Coax electrical feedthrough
TEAM integration kit
(4) Thermoflex Chiller, 50Hz.
FEI Nova NanoSEM 450是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於高分辨率成像和分析微米級和納米級。這種最先進的設備具有超導冷卻場發射電子槍、高速偏轉器和超高分辨率探測器，可實現無與倫比的成像性能。該技術利用超高真空設備，允許更大的空間在柱之間填充電子，從而提高分辨率，提高圖像質量。這有助於減少圖像模糊並刪除圖像結果中的噪聲。另外，低電子束能量消散很快，才能對標本造成損害。源的高亮度和小斑點大小可實現高達1nm的分辨率,這意味著可以看到樣品的較小區域。Nova NanoSEM 450比以往任何時候都具有更高的分辨率,可以比以往任何時候都更詳細地了解樣品中的細節。SE上的用戶友好界面具有最新的Windows操作系統,使數據處理變得快速高效。設備中的所有組件都已集成,因此用戶可以快速調整其設置和工具。FEI Nova NanoSEM 450上的探測器機提供了一種增強的智能成像工具,用於詳細分析。這允許收集多個信號，包括次級電子和反向散射電子以及其他信號。探測器資產還消除了大多數可能幹擾成像過程的信號。許多其他功能,如自動采樣階段、電動鏡頭移動、自動校準程序、樣品加熱和冷卻以及集成的電子束寫入功能,與Nova NanoSEM 450並駕齊驅,為掃描電子顯微鏡提供了最高質量的數據收集。憑借其直觀的軟件和卓越的成像分辨率，FEI NanoSEM 450是當今最好的掃描電子顯微鏡之一。
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