二手 FEI Nova NanoSEM 600 #293807963 待售
網址複製成功!
單擊可縮放
ID: 293807963
Field Emission Gun Scanning Electron Microscope (FEG-SEM)
Electron source: Schottky field emission
High and low vacuum with high resolution
Decel mode for low KV
Large chamber for flexibility
Analytical capability
Stage: 150 mm
Detectors: SED, BSED and STEM.
FEI Nova NanoSEM 600是一款先進的掃描電子顯微鏡,旨在為用戶提供納米級樣品的精確研究數據。它提供了廣泛的工具和功能,以幫助對一系列材料進行高分辨率成像和表征。設備自動化齊全,使用方便,是先進研究任務的絕佳選擇。Nova NanoSEM 600利用單色電子源為用戶提供高分辨率成像和表征。它支持範圍廣泛的加速電壓,從0.1到12 kV,以及多種成像模式,包括二次電子、反向散射電子和特征X射線成像。它支持具有高級特征檢測功能的用於自動成像的脈沖突發信號,以及用於全自動區域映射的「electronomap」圖像序列。該系統還為高級研究提供了幾種工具和技術。它包括溫度範圍為-25至100攝氏度的Peltier冷卻樣品級、可放大~ 300倍的浸入物鏡、自動傾斜級、自動瑕疵檢測器、用於元素映射的真空樣品表征單元和納米斷層掃描。此外,該機器還支持自動漂移校正成像和具有「電子眼」自動化功能的上下文智能分析。對於精確的樣品操縱,FEI Nova NanoSEM 600具有4軸電動樣板級,在特征檢測、定位和運動方面提供亞微米精度。該工具還包括自動吸塵和壓力控制、一系列真空內配件,以及用於端到端自動化的嵌入式軟件。Nova NanoSEM 600憑借其全面的一套工具以及高度先進的成像和表征功能,為用戶提供了納米級研究的終極解決方案。它使用戶能夠以極高的精度和精確度探索納米世界,讓他們對自己的樣本獲得無與倫比的理解。
還沒有評論