二手 FEI Quanta 250 FEG #293686361 待售
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ID: 293686361
Scanning Electron Microscope (SEM)
EDX
Secondary electron image resolution:
High vacuum mode: 1.0 mm @ 30 kV, 3.0 mm @ 1 kV
Backscattered electron image resolution:
High vacuum mode: 2.5 mm @ 30 kV
Low and ambient vacuum mode: 1.4 nm @ 30 kV
Beam current range:
0.8 pa ~ 100 na (15 kV)
0.8 pa ~ 100 na (2 kV)
0.8 pa ~ 100 na (1 kV)
Acceleration voltage: 200 V~30 kV.
FEI Quanta 250 FEG是一種精密的掃描電子顯微鏡(SEM),設計用於材料科學、生命科學、納米技術、半導體等各個領域的高分辨率成像和先進的分析能力。作為FEI Quanta系列的旗艦儀器,Quanta 250 FEG結合了創新技術,為廣泛的研究應用提供卓越的性能和多功能性。FEI Quanta 250 FEG的關鍵特徵之一是其場發射槍(FEG)電子源,提供高亮度和相幹性的高度穩定電子束。這使得顯微鏡能夠實現卓越的成像分辨率到亞納米級,讓研究人員能夠以無與倫比的清晰度可視化精細細節和結構。FEG源還提供了增強的光束控制和光束電流穩定性,確保了一致和可重現的成像結果。Quanta 250 FEG配備了多種探測器選項,包括二次電子(SE)探測器、反向散射電子(BSE)探測器和能量色散X射線光譜(EDS)探測器。這些探測器能夠在同一臺儀器上進行各種成像和分析技術,使FEI Quanta 250 FEG成為一種通用工具,用於表征具有不同特性和成分的各種樣品。在成像能力方面,Quanta 250 FEG支持高真空和低真空操作模式,允許對範圍廣泛的樣品進行成像,包括可能容易產生充電效果的非導電材料。該儀器還具有可變壓力模式、環境SEM (ESEM)模式和低真空模式等先進的成像模式,能夠對具有可變水合水平的樣品進行成像,以及對處於自然狀態的樣品進行成像,而無需大量的樣品制備。為了提高分析能力,FEI Quanta 250 FEG配備了EDS系統,通過檢測電子束-樣品相互作用過程中發出的特性X射線,可以對樣品進行元素分析。這使研究人員能夠識別和量化樣品的元素組成,繪制樣品內元素分布圖,並以高空間分辨率進行元素線掃描。此外,Quanta 250 FEG還提供用於數據采集、處理和分析的高級軟件功能,使研究人員能夠從其圖像和光譜中提取有價值的信息。顯微鏡兼容各種成像和分析軟件包,包括FEI專有軟件套件,提供直觀的用戶界面、自動化工具和圖像處理算法,以提高生產力和數據解釋。總體而言,FEI Quanta 250 FEG掃描電子顯微鏡是一種前沿儀器,它將高分辨率成像能力與先進的分析技術相結合,為研究人員提供了研究廣泛材料和樣品的微觀結構、組成和性質的強大工具。Quanta 250 FEG憑借其優越的性能、多功能性和用戶友好的界面,是各領域科研發現不可或缺的工具。
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