二手 FEI Quanta Inspect #9172399 待售
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ID: 9172399
Scanning Electron Microscope (SEM)
Without EDS
Tungsten filament single beam
EDWARDS 8 Vacuum pump
Vacuum system:
High vacuum mode: <6 x 10^-4 Pa
Low vacuum mode: 10 - 270 Pa
Through the lens ESEM differential pumping technology
70 l/S Turbo molecular drag pump
Rotary pump
Electron optics:
Pre-aligned
(3) Lenses
Air cooled
Electron optical column optimized for high resolution
Fixed position
Final lens aperture
Navigation:
X: 50 mm (Motorized)
Y: 50 mm (Motorized)
Z: 25 mm (Manual)
Tilt: +75° to -15°
Tilt eucentric at analytical working distance: 10 mm
Source: Tungsten hairpin filament
Voltage: 200 V to 30 kV
Beam current: > 2 µA
Resolution: 3.0 nm Gold particle separation on carbon substrate
High vacuum operating modes: 10 nm at 3 kV
Low vacuum operating modes: <12 nm at 3 kV
Focus range: 3 mm - 99 mm
Magnification: 6x to >1,000,000x
With 19" LCD monitor
Scanner:
Pixel density: 512 x 442, 1024 x 884, 2048 x 1768
Dwell time: 50 ns/pixel to 1 ms/pixel
Electronic scan: n x 360°
Detector
Monitor: LCD, 19"
Low-kV, Solid state backscattered electron detector with preamplifier
CCR IR Camera.
FEI Quanta Inspect是一種高性能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高級研究和分析實驗室實驗。它非常適合檢查和分析各種材料，包括半導體、復合材料、金屬、陶瓷、聚合物、磁性材料和薄膜。Quanta Inspect SEM利用了最先進的電子柱，使儀器性能和分辨率更高。它包括最新的成像和數字信號處理功能。它具有先進的Liebscher Type Gun （LTG）電子源，具有用於高分辨率成像和反向散射電子成像的探針。此外,它還具有智能成像和分析平臺,該平臺具有直觀的圖形用戶界面、自動化的關卡和測量距離、圖像縫合功能,以及用於測量關鍵結構的各種工具。FEI Quanta Inspect能夠提供橫向分辨率為1.4 nm、動態範圍為14位的高質量圖像。它還具有可變壓力掃描電子顯微鏡（VP-SEM），可確保在各種工作條件下的優越成像。VP-SEM改變了高壓加速器的速度，維持了成像分析的最佳真空條件。在示例階段,Quanta Inspect為應用程序提供了多種選項,包括電動定位系統、用於查看動態對象的傾斜階段、自動聚焦系統、示例導航設施和可編程掃描速度範圍。FEI Quanta Inspect采用多種探測器，讓用戶靈活應對最具挑戰性的分析需求。其多路探測器可用於低能和高能光束成像。電子反向散射衍射（EBSD）探測器為研究人員提供了研究各種材料納米級特征所需的清晰度。它還可以檢測和分析薄標本和散裝標本中的元素組成。Quanta Inspect是一個多功能的SEM解決方案,提供高級功能,如自動映射、陣列測量、自動數據采集和報告。它是廣泛研究和工業應用的理想工具。
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