二手 FEI Strata FIB 205 #9233566 待售

FEI Strata FIB 205是一種高端掃描電子顯微鏡（SEM），專為需要先進成像和制圖能力的研究人員和科學家設計。該設備提供了多種有用的功能,以確保盡可能提供最高分辨率的成像和分析。Strata FIB 205基於野外發射槍（FEG）和專門為DualBeam工作流設計的定制設計的Quattro標本級。先進的光學、納米支架、優越的樣品照明，以及眾多的配件，使系統成為了強大的成像和數據收集工具。Quattro級能夠攜帶厚度達9mm的樣品，特別適合3D納米結構成像。FEI Strata FIB 205具有高亮度FEG,可提供卓越的分辨率和高光束電流密度,從而提高成像速度。該單元還具有6.3英寸的大視場,能夠成像大樣本量,並改善聚焦深度。地層FIB 205還包括各種樣品持有者和階段，例如相關映射階段，它能夠自動關聯來自二次電子和反向散射電子探測器的數據。SuperDry樣品支架提高了親水樣品的成像質量，而CrystalView樣品支架則設計用於實時成像結構化表面。FEI Strata FIB 205啟用了IntelliTune,可根據任務自動檢測,以及易於使用的自動映射軟件和自動圖像處理,以獲得更好的結果。該機器還包括高級圖像采集工具,這些工具能夠捕獲超高分辨率數據或執行較大規模的表面測量。Strata FIB 205為研發應用提供了最先進的掃描電子顯微鏡性能。FEI Strata FIB 205具有先進的成像和制圖功能、出色的樣品制備和自動化工具,是現有功能最強大的掃描電子顯微鏡系統之一。