二手 FEI Tecnai G2 F20 S-Twin #293604436 待售

FEI Tecnai G2 F20 S-Twin是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於多種應用，從工業到研究實驗室。這種最先進的掃描電子顯微鏡提供高分辨率成像的卓越性能，以及一系列不同的分析和成像能力。該儀器的視野可達20毫米，最小光斑尺寸可達5納米。Tecnai G2 F20 S-Twin配備了高分辨率的鏡頭範圍，實現了納米分辨率的分析和成像能力。該儀器能夠同時進行二次電子成像（SEI）和反向散射電子成像（BSEI），使用戶能夠輕松獲取樣品表面的圖像。除了成像能力外，FEI Tecnai G2 F20 S-Twin能夠進行廣泛的定量分析應用。該儀器可測量樣品特性，包括地形、組成、表面電位和粗糙度。Tecnai G2 F20 S-Twin也很好地配備了一系列自動化功能，例如圖像縫合，用於大面積的高速合成。FEI Tecnai G2 F20 S-Twin的創新設計也為動態樣品成像或研究移動或擴散過程提供了卓越的穩定性。這種穩定性對於其他應用也是有利的，因為儀器的低振動水平允許先進的納米技術能力。此外，Tecnai G2 F20 S-Twin配備了廣泛的環境控制，使用戶可以輕松操縱樣品周圍的氣體環境。這一特征對於表征表面特性特別有用，包括氧化水平、腐蝕或汙染。總體而言，FEI Tecnai G2 F20 S-Twin是一種功能強大的掃描電子顯微鏡，非常適合廣泛的應用。其出色的成像、定量分析和環境控制能力使Tecnai G2 F20 S-Twin成為任何希望從SEM獲得高質量結果的實驗室的絕佳選擇。