二手 FEI TECNAI G2 F20 X-TWIN #293620685 待售

ID: 293620685
Transmission Electron Microscope (TEM).
FEI TECNAI G2 F20 X-TWIN是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM)。這種功能強大的裝置被設計為在令人難以置信的多種應用中生成微觀標本的高分辨率圖像,如生物研究、工業檢驗和納米加工。TECNAI G2提供高達1.7nm的分辨率,是同類產品中最好的,能夠精確分析微小的特征。其20kV的加速電壓保證了高質量的成像和低樣品損傷,而其獲得專利的X-Twin電子光學提供了廣闊的視野和高水平的圖像對比度。此外,它的雙軸同步允許相對於光束快速準確地定位樣品。TECNAI G2還配備了多種用戶友好的功能,包括易於導航的軟件、用於標本操作的精確自動化以及用於常規成像和精密研究技術的直觀操作。其廣泛的附件進一步增強了系統的多功能性,允許大型樣品的多個標本持有者,以及能夠在不同壓力和溫度條件下對標本進行成像的低溫和環境室。TECNAI G2 F20 X-TWIN是一個通用、緊湊、可靠的工作區解決方案。結合性能、易用性、人體工程學和安全性,這種顯微鏡是先進的顯微鏡研究和工業應用的理想選擇。TECNAI G2由於其出色的光學性能、高分辨率和低樣品損壞,非常適合任何研究或檢查項目。
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