二手 FEI Tecnai G2 F20 #293618175 待售

FEI Tecnai G2 F20是一種多功能掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於多種研究和工業應用。它利用聚焦的電子束實現對散裝材料表面或橫截面的高分辨率成像。這款SEM配備了冷場發射槍（FEG）電子源，在具有挑戰性的應用中提供出色的圖像分辨率和卓越的性能。它能夠成像樣品，最大面積6.5厘米x 6.5厘米，最大放大倍數為300,000X。此外，Tecnai G2 F20擁有集成的氣體註入樣品級系統（GIS），使用戶能夠精確地進行氣態或真空室SEM操作。FEI Tecnai G2 F20的樣品處理特性允許自動、非接觸式樣品加載和優化振動控制。它有一個大的樣品室，可以很容易地與額外的樣品持有者進行定制分析。封閉式腔室可消除環境汙染，還可收集二次電子用於表面光譜。在成像和分析能力方面，Tecnai G2 F20可以收集高分辨率的反向散射電子（BSE）和SE2（二次電子）圖像。它具有可變的掃描速度、圖像大小和電流範圍，以滿足各種樣品要求。使用可變壓力BSE、單色成像和邊緣增強等幾種預定義的對比度技術，用戶可以在不同的圖像類型中增強對比度和可見度。FEI Tecnai G2 F20具有廣泛的分析能力。其EDS系統采用牛津儀器X-MAX 80探測器供電，輕松融入SEM環境。它能夠以出色的速度、靈敏度和分辨率進行元素分析,並且用戶可以執行圖像關聯來查找感興趣的特征。Tecnai G2 F20是一種先進的SEM,非常適合需要卓越成像和分析性能的研究和工業應用。它用途廣泛，可以處理廣泛的樣本，允許進行詳細的分析、可視化和表征。