二手 FEI Tecnai G2 F20 #9246534 待售

FEI Tecnai G2 F20是為研究應用而設計的高分辨率掃描電子顯微鏡（SEM）。該顯微鏡采用野外發射槍制造，具有高分辨率、高對比度圖像和能量濾波的能力。這允許用戶精確映射元素分布，識別細微的特征和缺陷結構。先進的檢測系統能夠在所有方向上達到1.2nm的分辨率，對於較大的樣品，工作距離為14mm。顯微鏡具有可變壓力操作能力，可達到10-500 Pa的壓力，允許在真空和中等壓力下成像樣品。可變壓力能力使成像具有更大的靈活性，使用戶能夠獲得各種樣品類型和原子分辨率的圖像。Tecnai G2 F20配備了強大的加速電壓，範圍從0.1-30kV。高加速電壓帶來了用戶調節工作距離的能力，允許對細膩樣品和厚樣品進行成像。此功能還提供了改進的景深信息,支持地形成像和三維成像功能。G2 F20配有種類繁多的探測器，為用戶提供不同的方法來收集和分析獲得的圖像。利用Everhart-Thornley和Bessel等二次電子探測器、收斂電子探測器和反向散射電子探測器，用戶可以獲得圖像、化學分析、晶體學分析和地形成像。添加可選的Oxford AZtec EDS檢測器使用戶能夠通過元素映射和分析來補充其成像。FEI Tecnai G2 F20設計了一個用戶友好的界面，讓用戶更容易使用顯微鏡。利用EasySem、AutoImage和RealTime等自動化系統,用戶能夠快速高效地為其示例設置條件。另外，顯微鏡還配備了Genève X-Y-Z樣品操縱器，提供精確的運動和樣品的精確對準。Tecnai G2 F20是一種先進可靠的掃描電子顯微鏡，用於研究應用。FEI Tecnai G2 F20具有全面的探測器套件、可變壓力能力和用戶友好界面,可提供高分辨率、高對比度圖像和各種樣品類型的精確分析。