二手 FEI / TECNAI G2 F30 S-Twin #9028804 待售

FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin掃描電子顯微鏡（SEM）是一種用於對各種樣品進行高分辨率成像和分析的先進儀器。它包括一個大的視野和動態聚焦與雙腔室系統，旨在保持樣品制備和儀器操作分開。這種先進的顯微鏡還具有能量色散X射線光譜（EDS）探測器，提供樣品的元素分析。FEI G2 F30 S-Twin SEM具有電子槍,可提供0.1nm的波長,以實現卓越的分辨率和高倍率成像。它設計用於在更高的電流和電壓水平下操作，用於廣泛的應用，包括成像生物標本、測量材料的微觀結構和表面粗糙度、細胞病理學以及藥物輸送研究。該儀器的聚焦離子束（FIB）技術也提供了出色的穩定性和分辨率。TECNAI G2 F30 S-Twin SEM因其雙腔室架構、4軸電動舞臺和高級軟件功能而設計為提供卓越性能。SEM使用先進的電子和光學技術相結合,實現了具有詳細對比度和深度的高分辨率成像。它還配備了坐骨晶狀體，允許從上、下兩個表面觀察標本，以及可選的低真空模式，用於成像細膩的樣品材料。除了標準成像任務外，G2 F30 S-Twin還具有一系列分析能力，包括能量色散光譜（EDS）檢測器、自動粒子分析（APA）、反向散射電子（BSE）成像和掃描離子微探針（SIM）。此外，它的光束電流自動對焦系統和自動化的優化使得能夠對樣品的化學和結構進行詳細的表征。總體而言,FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin SEM是一種功能強大且用途廣泛的工具,用於對各種樣品進行高分辨率成像和分析。它提供了無與倫比的特性和功能組合,包括卓越的分辨率、先進的機電設計、高水平的自動化以及廣泛的分析工具。