二手 FEI / TECNAI G2 F30 S-Twin #9225984 待售

FEI/TECNAI G2 F30 S-Twin掃描電子顯微鏡（SEM）是一種功能強大的成像設備,可為工業、醫藥、科研等多個領域提供超高分辨率成像能力。此工具提供了其他映像系統中找不到的功能的強大組合,以創建獨特的映像體驗。FEI G2 F30 S-Twin為用戶提供可定制的掃描電子束、30 kV的高加速電壓和高達2 nA的掃描束電流。這種電子束提供了強大、高分辨率的視野，可以用來創建高質量的元素圖、圖像和樣品材料的分析。機動化樣品架提供方便的樣品加載和精確定位，運動範圍可達100 µm，最大樣品尺寸為100 mm。TECNAI G2 F30 S-Twin還配備了多種分析工具來分析樣品的元素組成，包括能量色散X射線光譜（EDS）和能量過濾成像（EFI）。內置的EDS允許用戶識別樣品的元素組成，高分辨率的EFI允許對樣品進行詳細的化學映射。此外,FEI獲得專利的G2平臺技術能夠自動獲取和分析安裝在引腳和平臺上的樣品。這種功能強大的自動化設備使用戶無需花費時間配置顯微鏡即可快速獲取、處理和分析樣品。該系統還設計了一系列安全功能,包括門互鎖、鍵控用戶訪問單元和沖擊保護模式,可確保儀器的最高安全級別。總體而言,G2 F30 S-Twin掃描電子顯微鏡提供了一套強大的成像、分析和自動化功能,使其成為廣泛應用的理想儀器。它擁有專有的平臺技術和自動化的采集/分析機器,可方便地快速獲取、處理、分析和存儲各種樣本的數據。它的高分辨率成像功能和內置分析工具為任何成像任務提供了完美的功能融合。