二手 FEI Tecnai G2 F30 #9199627 待售

FEI Tecnai G2 F30 Scanning Electron Minccope是一種功能強大的高分辨率儀器,用於對納米尺寸的粒子和結構進行成像,能夠產生分辨率高達30 nm的圖像。該工具針對金屬合金、半導體和陶瓷等無機和納米尺寸材料的成像進行了優化。Tecnai G2 F30配備了場發射槍（FEG）電子源，提高了圖像的穩定性、質量和分辨率。這種電子源還提高了更快的樣品分析的吞吐量，導致更高的精度和結果的一致性。FEI Tecnai G2 F30掃描電子顯微鏡采用明亮高分辨率電子柱，非常適合高CONTANGO敏感樣品、高效分析工作和3D成像。采用智能APE技術進一步提高了顯微鏡的工作效率，自動優化了被成像樣品的電子束能量和亮度。除了成像能力外，Tecnai G2 F30還具有能量色散X射線光譜（EDS）、電子反向散射衍射（EBSD）、掃描電子顯微鏡-能量色散光譜（SEM-EDS）、元素映射等先進分析方法。這些分析方法對標本提供了更準確、更詳細的觀察，從而可以更深入地了解其組成、結構和性質。該系統包括各種配件，如自動級、樣品架和支架、精確測光的孔徑、標本對準的照明技術，以及用於檢測低能和高能離子的各種Everhart-Thornley探測器。FEI Tecnai G2 F30掃描電子顯微鏡非常適合用於研究、工業和教育應用。其精密的工程設計、精密的電子設備和高分辨率的成像功能使其成為任何用戶尋求從金屬合金到半導體等各種材料的詳細信息的寶貴工具。