二手 FEI / TECNAI G2 Spirit TWIN T12 #293822247 待售

FEI/TECNAI G2 Spirit TWIN T 12是一種精密的掃描電子顯微鏡（SEM），提供高分辨率表面分析和微觀結構表征的高級成像能力。FEI G2 Spirit TWIN T 12由FEI（現為Thermo Fisher Scientific的一部分）和TECNAI設計，融合了尖端技術，為研究人員和科學家提供了一個強大的納米級調查工具。TECNAI G2 Spirit TWIN T 12的核心是一個高性能電子柱，它產生一個聚焦電子束，用於成像樣品，具有非凡的細節和分辨率。顯微鏡采用TWIN透鏡配置，包括磁性浸沒透鏡和靜電透鏡，可協同工作，以優化成像性能和提高分辨率能力。TWIN鏡頭系統允許用戶以20倍至1,000,000倍的放大倍數實現樣品的高質量圖像，從而能夠對表面形態、粒子分布和微觀結構特征進行詳細分析。配備鎢絲電子源的G2 Spirit TWIN T 12可提供穩定而強烈的電子束，用於成像廣泛的材料，包括金屬、陶瓷、聚合物、半導體和生物標本。顯微鏡提供可變電子束能量設置，以適應不同的樣品類型和成像要求，確保最佳對比度和信噪比，以便對顯微照片進行準確的分析和解釋。FEI/TECNAI G2 Spirit TWIN T 12配備了一系列探測器，用於檢測二次電子（SE）、反向散射電子（BSE）以及成像過程中從樣品發出的X射線。這些探測器使用戶能夠捕獲多種成像模式，並從標本表面收集有價值的元素信息。SE檢測器非常適合揭示表面地形和紋理細節，而BSE檢測器則提供基於原子序數變化的成分對比和材料辨別。除了成像功能外，FEI G2 Spirit TWIN T 12還提供高級分析功能，用於進行元素映射、化學成分分析和粒子分析。顯微鏡與能量色散X射線光譜（EDS）和波長色散X射線光譜（WDS）系統兼容，使用戶可以進行高空間分辨率和靈敏度的元素分析。集成的EDS/WDS檢測器可以識別和量化樣品中存在的元素,從而深入了解樣品的組成和元素分布。TECNAI G2 Spirit TWIN T 12配備了高級控制和自動化系統,可簡化成像工作流程並提高用戶生產率。顯微鏡具有直觀的軟件界面,用於顯微鏡控制、圖像采集和數據分析,為用戶輕松執行復雜的成像任務提供了用戶友好的體驗。此外,顯微鏡還采用自動成像程序、舞臺導航和成像預設進行設計,以簡化樣品處理和成像設置,從而實現快速數據采集和分析。總體而言，G2 Spirit TWIN T 12是一款最先進的掃描電子顯微鏡，為各種材料科學和生物研究應用提供卓越的成像性能、分析能力和用戶友好操作。FEI/TECNAI G2 Spirit TWIN T 12具有先進的技術和多用途的特點，是推進納米顯微鏡領域科學發現和創新的寶貴工具。