二手 FEI Tecnai Osiris #293618058 待售

看起來這件物品已經賣了。檢查下面的類似產品或與我們聯系,我們經驗豐富的團隊將為您找到它。

製造商
FEI
模型
Tecnai Osiris
ID: 293618058
優質的: 2011
Transmission Electron Microscope (TEM) P/N: FP 5027/40.
FEI Tecnai Osiris是一種最先進的掃描電子顯微鏡(SEM),非常適合研究和常規成像。利用創新的設計原理,這款顯微鏡能夠以最高的細節水平實現快速成像。Tecnai Osiris利用一個大的82mm電子加速透鏡在三維空間投射一個高度圓形、槍狀的電子束或氣相離子束。這種電子束由一系列磁線圈和電線圈操縱和引導,允許掃描尺寸、速度和分辨率調整。該槍還配備了一個環境探測系統,用於監測環境並對聲磁幹擾進行快速校正。此SEM的最小特征分辨率為1nm,是業界最詳細的SEM之一。FEI Tecnai Osiris獨特的設計迎合了多種影像目的。其精密的信號處理電路允許同時分析多達80個實時信號電平,使其成為X射線光譜應用的理想選擇。此外,其現場排放源(FE)旨在保持聚焦光束,即使長時間使用也不需要維護。這使得Tecnai Osiris非常適合需要長時間連續檢查的項目。FEI Tecnai Osiris還配有一套可選配件,如氣田離子源和低真空探測器,最大限度地利用顯微鏡的機會和應用。這種先進的SEM還能夠成像各種材料,從有機分子到半導體薄膜,具有廣泛的電壓和電流設置,因此非常適合工業應用和詳細的科學研究。Tecnai Osiris是一款功能強大且用途廣泛的現代圖像應用工具,其分辨率比其他SEM類型高得多,價格僅為一小部分。其廣泛的特點使得這種SEM成為任何實驗室的首要選擇,從金屬和礦物標本的成像到先進的探索性研究。
還沒有評論