二手 FEI TEMLink 14771-003 #9298772 待售

FEI TEMLink 14771-003是一種掃描電子顯微鏡（SEM），設計用於高分辨率成像、分析和自動化應用。它是研究級電子顯微鏡的經濟高效的解決方案，具有廣泛的特點和先進的性能。TEMLink 14771-003配備了高占空比、峰值亮度100 nanoAmps/cm2的鏡頭內場發射源（FES）。這項技術允許在成像和自動分析方面具有很高的分辨率。此外，FEI TEMLink 14771-003配備了集成表面分析設備（SAXFPE），用於元素分析和化學檢測。該系統配有AE探測器、EDX探測器、高光譜成像單元和STEM探測器，以確保最大的數據精度。TEMLink 14771-003的設計還包括其高分辨率的特點。FEI TEMLink 14771-003具有較長的工作距離（35微米）和較高的數值孔徑（1.2）,能夠以高達4 nm的分辨率對樣品進行成像和分析。TEMLink 14771-003還具有對其組件的軟件控制功能,允許其系統進行遠程操作和自動化。FEI TEMLink 14771-003還帶有多種圖像處理功能以及自動化的機器分析程序。這些程序包括統計分析工具和人工智能（AI）驅動的對象分類工具。工具設置的自動化可用於設置預先確定的成像參數和校準,以便進行可靠的測量。最後，TEMLink 14771-003還包括在長期和短期實驗中保持顯微鏡穩定和安全的環境控制選項。這包括控制大氣和濕度室、壓力和振動控制以及真空資產等特征。總體而言，FEI TEMLink 14771-003是一種適用於研究級成像分析的高性能掃描電子顯微鏡。它具有多種特性，使其成為適用於高分辨率成像、表面分析、自動化和環境控制的工具。其鏡頭內現場排放源（FES）和軟件自動化功能允許在經濟高效的解決方案中實現高分辨率成像和自動分析。