二手 FEI TEMLink 150 #293604494 待售

FEI TEMLink 150是材料科學中用於無損樣品表征的掃描電子顯微鏡（SEM）。它具有高分辨率的反向散射電子成像（BEI）和二次電子成像（SEI）能力，廣泛應用於高分辨率表面汙染分析。TEMLink 150通過使用熱電子源運行，使顯微鏡能夠執行各種成像技術。它配備了包含電子源（鎢絲）的單模槍，在室溫下操作。這種電子源的設計有助於降低維護要求，並為用戶提供卓越的性能。顯微鏡為快速、準確和可重現的結果提供了自動零機制。FEI TEMLink 150是一種多功能儀器，可用於表征多種材料，如金屬、半導體、陶瓷等。其柔韌性也使其適合於對有機材料進行成像，例如聚合物和生物樣品。TEMLink 150采用高分辨率成像檢測器，為用戶提供多種選擇。相差成像和能量色散X射線光譜（EDS）是其中的內置選項。通過使用可選的數字量化圖像處理器，用戶還可以獲得有關標本特征的定量信息，如粗糙度或其他表面樣式。FEI TEMLink 150以快速掃描速度提供出色的成像和分析功能。利用可調節的傾斜角，用戶可以方便地從多個角度探索標本特征。標本也可以繞其垂直軸旋轉，進行復雜成像。此外，顯微鏡的自動光束掃描對準功能使用戶能夠快速測量、成像和分析標本。TEMLink 150還具有現代設計，具有可傾斜的彩色圖形用戶界面和易於使用的圖形工具。其自動平衡模式消除了手動調整顯微鏡設置的需要，允許用戶快速訪問所需的數據和分析。FEI TEMLink 150具有優異的性能和優點，是無損材料表征的理想選擇。它是研究人員、工程師和科學家的寶貴工具。