二手 FEI Titan CT #293595104 待售
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ID: 293595104
Transmission Electron Microscope (TEM)
Field emission GUN
HR-TEM
STEM Polepieces
EDX EDAX Detector
GATAN Triediem EELS energy filter
EELS and EFTEM Chemical analysis and mapping
TEM/STEM Tomography
Electron diffraction
Resolution: 0.24 nm
Limit: 0.12 nm
EFTEM Resolution: 1 nm
STEM-Resolution: 0.17 nm
Electron tomography resolution: 1 nm in X and Y
Thickness of < 500 nm
TEM Cabinet
Power cabinet
Optics cabinet
HT Tank
Camera cabinet
Pumps
With hoist
Water chiller
Gun
Qty / Description
(1) / Allen key
(2) / X-Ray screws
(1) / Torque screwdriver
(3) / Cabinet keys
(1) / Dewar cover
(1) / Feg inner vessel server gauge
(1) / Pump clamps
(1) / ESS box
(1) / ESS Cable monitor cable
(1) / Column service tools
(1) / Bellow
(1) / Column lift tools
(1) / Column foot
(1) / Bake out tools with SF6 Hose
(1) / Support PC
(3) / Monitors
(2) / Mouse and keyboards
(1) / VGA Power cable for SPC
(1) / Hand panels
(1) / Compustage service tools
(2) / Holders
(1) / Dewar bottle
(1) / Frame screws
Power supply: 80-300 kV.
FEI Titan CT是一種掃描電子顯微鏡（SEM），用於對固體材料的表面結構進行成像分析。它有各種不同的視野選項，可以對小規模和大規模的樣品進行詳細分析。Titan CT配備了一個冷場發射源（CFES），產生增加的電子探針電流，從而更好地分辨出樣品上的特征。此外，CFES減少了通常與常規SEM相關的粒子的充電。FEI Titan CT憑借其升級的計算機處理能力，能夠以前所未有的速度獲取多模式圖像數據。這允許對樣品進行廣泛的微觀結構表征。泰坦CT利用一套探測器從樣品中獲取信號。反向散射電子（BSE）探測器可以檢測當初級電子撞擊樣品原子時發出的次級電子。這些提供了標本的地形細節，既有淺又有深的聚焦深度。次級電子（Secondary Electron, SE）探測器可以檢測初級電子與樣品表面相互作用時發出的電子，提供更多地形細節，以產生更高對比度的SEM圖像。還有可用於分析發射電子能譜的平行探測器。FEI Titan CT還可以包括一個能量色散X射線光譜（EDS）探測器，用於樣品的化學分析。這種技術允許根據元素被初級電子撞擊時釋放的能量來微分元素。此外，EDS檢測器可用於測量樣品的元素濃度，從而更好地了解其化學性質。Titan CT還提供強大的像差校正圖像分辨率,生成分辨率高達1nm的高度詳細的圖像。這允許觀察細微的特征，如晶界、空隙和裂紋。FEI Titan CT還可以生成數字圖像關聯（DIC）來確定描述標本表面所需的所有相關參數。使用DIC技術獲得樣品的形狀和應變信息。最後，TitanCT采用自動真空工藝，降低了電子源的光束光斑壽命，保證了長時間的無缺陷運行。FEI Titan CT還為標本制備提供了多種自動化、用戶友好的功能。總之，泰坦CT是一種復雜而有力的工具，用於成像和分析各種尺寸的樣品。其先進的人體工程學和特點使其成為顯微鏡專業人士的首選。
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