二手 HITACHI CG 4100 #293603081 待售

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製造商
HITACHI
模型
CG 4100
ID: 293603081
晶圓大小: 12"
優質的: 2008
Scanning Electron Microscope (SEM), 12" CIM: SECS GEM Standard handler system (3) FOUPs Power supply 2008 vintage.
HITACHI CG 4100掃描電子顯微鏡(SEM)是研究人員、工程師和產品設計者的寶貴工具。它提供了優越的圖像的宏觀和微觀特征的樣品,允許物理和化學特性的詳細調查。高分辨率和廣泛的工作範圍使其成為納米成像的絕佳選擇。HITACHI CG4100利用掃描電子光學產生樣品的圖像,利用電子束的反射來識別其結構。其電動數字放大系統能夠在20倍至500 000倍之間進行放大,從而能夠在納米級對樣品進行觀測。超高分辨率二次電子圖像可以捕獲到0.8nm,高對比度圖像可以通過反向散射電子成像(BSE)生成。該技術除了具有光學功能外,還使用戶能夠通過高分辨率X射線元素分析對樣品進行分析。這樣可以量化樣品中敏感度低至0.5%的元素。該系統還為用戶提供對電子束的控制。光束可以聚焦,電流和電壓可以調整,以達到給定應用的最佳圖像。CG-4100 SEM配有軟件和硬件組件;它是一個可靠且易於使用的系統,需要最少的設置時間。其實用的設計允許用戶根據自己的特定需求進行配置,幫助優化圖像質量和分析。綜上所述,CG 4100 SEM在樣品中提供了優越的宏觀和微觀特征圖像,結合了廣泛的操作範圍和數字放大倍率、X射線元素分析和可調電子束等一系列實用特性,使其成為納米級成像任務的理想選擇。
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