二手 HITACHI FB-2000 FIB / HD-2000 #71521 待售

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ID: 71521
優質的: 2001
Scanning Transmission Electron Microscope (STEM) 0.24nm resolution 2 million magnification 20 faster than TEM Z-contrast transmitted image Windows based user interface Small, requires 4x5 meter room FB-2000 is a focused ion beam tool used for sample preparation Capable of producing extremely high resolution images of submicron structures Capable of elemental analysis on submicron features using an x-ray detector that is part of the system Both tools share inter-compatible sample holders which make transitions the sample from one tool to the other seamless The STEM needs to be repaired Low cost roughing pump needs to be replaced High voltage supply needs to be repaired Currently installed 2001 vintage.
HITACHI FB-2000 FIB/ HD-2000是一種掃描電子顯微鏡(SEM),將SEM的成像能力與聚焦離子束(FIB)技術相結合。通過結合這兩種技術,可以對納米結構進行成像和處理。利用FIB技術,可以對樣品進行銑削和成像準備,然後掃描以獲得更高分辨率的成像和分析。該FB-2000配備高功率場發射槍(FEG),在高放大倍率和分辨率下提供卓越的圖像質量。它還具有用於樣品定位和操作的高精度階段。這樣可以對各種樣本量和類型進行精確和可重復的成像。該FB-2000能夠在低、中、高真空模式下成像。該HD-2000是支持高分辨率和快速圖像采集的FB-2000的新功能。它允許更高的放大倍率和分辨率高達1000倍,以及自動處理和分析圖像。該HD-2000還支持快速掃描視場,非常適合樣本的區域特異性分析。在附件方面,FB-2000與各種各樣的探測器和探測器系統兼容,包括EDX、EELS、SPM和BSE。它還支持廣泛的自動化分析和處理軟件,允許對樣本進行復雜和全面的分析。FB-2000/ HD-2000還具有易於使用的用戶界面,使操作變得簡單直觀。該單元還包括一份全面的培訓手冊和一個專門技術團隊的支持,以幫助確保用戶從他們的單元中獲得最大收益。總體而言,FB-2000 FIB/ HD-2000是納米結構成像和分析的絕佳選擇。它結合了FIB和SEM功能,以高分辨率和放大倍率提供卓越的圖像質量。其廣泛的探測器和軟件程序,以及直觀的用戶界面,使得它非常適合在各種應用中使用。
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